簡要描述：電磁式正弦振動試驗機(jī)作為環(huán)境模擬試驗的一個重要分支,主要用來測試設(shè)備的共振頻率,進(jìn)而研究其疲勞壽命和可靠性。該技術(shù)目前在越來越多的領(lǐng)域得到應(yīng)用,特別是產(chǎn)品、航天產(chǎn)品和大型建筑設(shè)備等領(lǐng)域。

電磁式正弦振動試驗機(jī)價格性能：

1.全數(shù)字式架構(gòu)設(shè)計：MCU+DSP+FPGA協(xié)同處理架構(gòu);

2.采用多級閉環(huán)控制策略數(shù)字控制算法，具有的功率輸出性能;

3.模塊化設(shè)計，根據(jù)輸出功率需求自由擴(kuò)展;

4.基于軟啟動技術(shù)，開關(guān)頻率高達(dá)150KHz，具有優(yōu)秀的噪聲特性;

5.采用IGBT新型功率器件，具有高耐壓、高功率、高可靠性;

6.采用自動均流策略，并聯(lián)均流不平衡度<1%;

電磁式正弦振動試驗機(jī)廣泛適用于國防、航空、航天、通訊、電子、汽車、家電、等行業(yè)。該類型設(shè)備用于發(fā)現(xiàn)早期故障，模擬實際工況考核和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度試驗，產(chǎn)品應(yīng)用范圍廣泛、適用面寬、試驗可靠。

XYZ型三軸振動試驗臺

試驗臺執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動(正弦)

GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬頻帶隨機(jī)振動-一般要求

GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda 寬頻帶隨機(jī)振動-高再現(xiàn)性

GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb 寬頻帶隨機(jī)振動-中再現(xiàn)性

GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc 寬頻帶隨機(jī)振動-低再現(xiàn)性

GB/T2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法

技術(shù)規(guī)格：

用戶根據(jù)產(chǎn)品要求選購：