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TECHNICAL ARTICLES
  • 隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)

    隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)在運(yùn)輸或使用時(shí)的振動(dòng)環(huán)境中的狀態(tài),以判斷產(chǎn)品的性能并直接查找缺陷。 常應(yīng)用于電工電子、儀器儀表、航空航天、設(shè)備、通信器材、汽車(chē)零部件等領(lǐng)域的結(jié) 構(gòu)模型組件或整機(jī)的抗振應(yīng)力試撿。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-14
    100000
  • 垂直振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)特點(diǎn)

    垂直振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)特點(diǎn)作為環(huán)境模擬試驗(yàn)的一個(gè)重要分支,主要用來(lái)測(cè)試設(shè)備的共振頻率,進(jìn)而研究其疲勞壽命和可靠性。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-16
    100000
  • XYZ型三軸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)

    XYZ型三軸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)鎂合金骨架,剛度大,質(zhì)量輕,一階諧振頻率高,原始臺(tái)面尺寸大。10#鑄鋼磁殼,雙磁路結(jié)構(gòu),導(dǎo)磁效率高,漏磁小。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-16
    100000
  • 正弦掃頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)優(yōu)勢(shì)

    正弦掃頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)優(yōu)勢(shì)作為環(huán)境模擬試驗(yàn)的一個(gè)重要分支,主要用來(lái)測(cè)試設(shè)備的共振頻率,進(jìn)而研究其疲勞壽命和可靠性。該技術(shù)目前在越來(lái)越多的領(lǐng)域得到應(yīng)用,特別是產(chǎn)品、航天產(chǎn)品和大型建筑設(shè)備等領(lǐng)域。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-16
    100000
  • 垂直振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)使用說(shuō)明

    垂直振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)使用說(shuō)明作為環(huán)境模擬試驗(yàn)的一個(gè)重要分支,主要用來(lái)測(cè)試設(shè)備的共振頻率,進(jìn)而研究其疲勞壽命和可靠性。該技術(shù)目前在越來(lái)越多的領(lǐng)域得到應(yīng)用,特別是產(chǎn)品、航天產(chǎn)品和大型建筑設(shè)備等領(lǐng)域。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-16
    100000
  • 采購(gòu)正弦掃頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)

    采購(gòu)正弦掃頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)作為環(huán)境模擬試驗(yàn)的一個(gè)重要分支,主要用來(lái)測(cè)試設(shè)備的共振頻率,進(jìn)而研究其疲勞壽命和可靠性。該技術(shù)目前在越來(lái)越多的領(lǐng)域得到應(yīng)用,特別是產(chǎn)品、航天產(chǎn)品和大型建筑設(shè)備等領(lǐng)域。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-16
    100000
  • 掃頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)

    掃頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)主要模擬產(chǎn)品的正弦振動(dòng)和隨機(jī)振動(dòng)與沖擊環(huán)境試驗(yàn),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn),可靠性試驗(yàn)等。更真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)環(huán)境變化的適應(yīng)度,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制,樣機(jī)試驗(yàn)到產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-15
    100000
  • XYZ三軸振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)

    XYZ三軸振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)主要模擬產(chǎn)品的正弦振動(dòng)和隨機(jī)振動(dòng)與沖擊環(huán)境試驗(yàn),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn),可靠性試驗(yàn)等。更真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)環(huán)境變化的適應(yīng)度,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制,樣機(jī)試驗(yàn)到產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段。

    型號(hào):
    更新日期:2023-10-15
    100000
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